一、無顯示或黑屏

• 可能原因：

  • 電源問題：電池電量耗盡、電源適配器損壞或接觸不良。
  • 主板或顯示屏故障：內(nèi)部電路短路、顯示屏排線松動或液晶屏損壞。
  • 開機鍵失靈：按鍵接觸不良或內(nèi)部觸發(fā)電路故障。

• 解決方法：

  • 更換新電池或使用充電器供電，檢查電源接口是否清潔無氧化。
  • 拆開外殼（非專業(yè)人員建議返廠），重新插拔顯示屏排線；若排線斷裂或屏幕有裂痕，需更換配件。
  • 用酒精擦拭按鍵觸點，若無效則更換按鍵模塊。

二、無法測量數(shù)據(jù)

• 可能原因：

  • 被測物體厚度超出儀器測量范圍。
  • 探頭與儀器接觸不良。
  • 探頭老化或損壞。
  • 儀器參數(shù)設(shè)置錯誤，如聲速值、測量模式或增益過低。

• 解決方法：

  • 查看被測物體厚度是否在儀器測量范圍內(nèi)。
  • 檢查探頭與儀器是否接觸良好，必要時更換探頭。
  • 重新進行探頭自識別操作或材料聲速校準。
  • 根據(jù)被測材料調(diào)整儀器參數(shù)設(shè)置。

三、測量精度下降

• 可能原因：

  • 耦合不良：耦合劑涂抹不足、類型選擇錯誤或探頭與表面接觸不緊密。
  • 探頭磨損或損壞：探頭晶片磨損、表面污染或晶片脫落。
  • 被測件問題：材料聲衰減嚴重、表面粗糙或曲率過小。
  • 儀器參數(shù)設(shè)置錯誤：聲速值設(shè)置不準確或測量模式選擇不當。

• 解決方法：

  • 增加耦合劑用量，根據(jù)環(huán)境選擇合適類型，確保探頭與表面緊密接觸。
  • 用酒精清潔探頭表面，檢查晶片是否平整；若磨損嚴重，需更換探頭。
  • 對粗糙表面進行打磨處理，或使用寬波束探頭增加有效聲束覆蓋面積。
  • 用標準試塊校準聲速，確保測量精度。

四、探頭無法識別或識別錯誤

• 可能原因：

  • 探頭連接線破損、接頭氧化或晶振元件松動。
  • 探頭晶片因撞擊或老化失去壓電效應。
  • 儀器發(fā)射電路故障：脈沖發(fā)生器損壞或激勵電壓異常。

• 解決方法：

  • 用萬用表檢測探頭線通斷，更換破損線纜；清潔探頭接口并涂抹導電膏。
  • 觀察探頭晶片是否有裂紋或脫膠，若損壞需返廠更換晶片或探頭。
  • 用示波器檢測儀器發(fā)射端是否有脈沖信號，若無則需維修主板發(fā)射電路。

五、儀器過熱保護或無法在高溫環(huán)境下工作

• 可能原因：

  • 普通探頭耐溫不足（通常≤60℃），高溫環(huán)境下未使用專用高溫探頭。
  • 耦合劑失效：常溫耦合劑在高溫下干涸或碳化，失去傳導作用。
  • 儀器內(nèi)部元件因高溫性能下降，觸發(fā)過熱停機。

• 解決方法：

  • 更換高溫探頭（如碳化鎢材質(zhì)，耐溫可達500~600℃），并確保探頭與被測件接觸時間<5秒。
  • 使用高溫耦合劑（如二硫化鉬膏、陶瓷耦合劑），或采用水冷卻裝置降低局部溫度。
  • 避免儀器長時間暴露在高溫環(huán)境中，可加裝隔熱套或間歇性測量。

六、其他故障

• 電磁干擾：附近有強磁場設(shè)備（如電機、變頻器）或信號傳輸線接觸不良。

  • 解決方法：遠離干擾源，使用屏蔽線連接探頭，或為儀器加裝接地裝置。

• 探頭線斷裂或接頭松動：長期彎折導致內(nèi)部導線斷裂，或BNC/SMA接頭螺絲松動。

  • 解決方法：更換探頭線或重新焊接斷點，擰緊接頭螺絲。